XG5080宽量程精密四探针方阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。
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性能特点
1、最高方阻精度：3%；方阻最小分辨：1μΩ
2、最高电阻精度：0.05%；电阻最小分辨：1μΩ
3、温度补偿功能(TC)；温度基本精度：0.1°C
4、被测件厚度可预设，电阻率测试无需查表
5、零底数设计，微弱电阻测试无需清零
6、双电测模式，修正探针游移与样品边际效应
7、HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
8、U盘记录测试数据，并可远程升级仪器固件
9、符合国标GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
10、适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、
11、太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
12、体积：400mm(宽)×130mm(高)×350mm(深) 净重：约8kg
